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分析艾德克斯電子負(fù)載的測(cè)試步驟

更新時(shí)間:2015-12-02點(diǎn)擊次數(shù):2830
  艾德克斯電子負(fù)載提供了zui寬廣的測(cè)試應(yīng)用范圍,具定電壓,定電流和定電阻模式,短路測(cè)試的功能,簡(jiǎn)潔的操作及現(xiàn)實(shí)接口,強(qiáng)大的微電腦控制系統(tǒng)使的他們具備了更多有用的功能及更好的操作接口.在通訊方面ITECH電子負(fù)載具有zui強(qiáng)大的通訊功能,具有以太網(wǎng)GPIBUSBRS232多種通訊接口同時(shí)支持SCPI/VISA/USBTMC通訊協(xié)議,讓您可以隨心所欲的對(duì)設(shè)備進(jìn)行操控。
  艾德克斯電子負(fù)載的測(cè)試步驟:
  1、在管道充滿介質(zhì)的情況下.用萬(wàn)用表測(cè)量接線端子A.B與C之間的電阻值.A-C.B-C之間的阻值應(yīng)大至相等.若差異在1倍以上.可能是電極出現(xiàn)滲漏.測(cè)量管外壁或接線盒內(nèi)有冷凝水吸附.
  2、用萬(wàn)用表測(cè)量X.Y之間的電阻.若超過(guò)200Ω.則勵(lì)磁線圈及其引出線可能開(kāi)路或接觸不良.拆下端子板檢查.
  3、檢查艾德克斯電子負(fù)載X.Y與C之間的絕緣電阻.應(yīng)在200MΩ以上.若有所下降.用熱風(fēng)對(duì)外殼內(nèi)部進(jìn)行烘干處理.實(shí)際運(yùn)行時(shí).線圈絕緣性下降將導(dǎo)致測(cè)量誤差增大.儀表輸出信號(hào)不穩(wěn)定.
  4、在襯里干燥情況下.用MΩ表測(cè)A-C.B-C之間的絕緣電阻(應(yīng)大于200MΩ).再用萬(wàn)用表測(cè)量端子A.B與測(cè)量管內(nèi)二只電極的電阻(應(yīng)呈短路連通狀態(tài)).若絕緣電阻很小.說(shuō)明電極滲漏.應(yīng)將整套流量計(jì)返廠維修.若絕緣有所下降但仍有50MΩ以上且步驟(1)的檢查結(jié)果正常.則可能是測(cè)量管外壁受潮.可用熱風(fēng)機(jī)對(duì)外殼內(nèi)部進(jìn)行烘干.

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